IGBT短路测试方法详解(3)

存在问题的波形：

下图是一个在真实装置开发中有问题的结果，如果不做调整这个IGBT会面临较大风险。

下图是同样的装置经过调整，达到了理想的实验结果。

门极钳位（gate clamping）功能的测试：

在短路测试中，电流的形状与门极钳位电路的性能密切相关，而门极钳位的功能只有在这个时候才能体现出来。由于很多人都不太了解IGBT的短路行为，或者是没有深入测试设备的短路性能，因此，导致了对门极钳位电路的不重视。门极钳位电路出现的原因是IGBT存在米勒电容，在IGBT短路时，米勒电容会影响门极电压，导致短路电流激增，使IGBT承担风险。

越大容量的IGBT，米勒效应越强，门极钳位电路越重要。
差的门极钳位的结果：

下图为某型号2片1500A/3300V并联的短路测试波形，使用门极和发射极间的TVS进行门极钳位，如下图示。

母线电压为2200V，实验结果显示，

IGBT的电流峰值为13.36kA。

CH1,2：Vge

CH3 4：Vce
好的门极钳位的结果：

在上页的基础上，完全相同的硬件设置，只是修改了门极钳位电路。用下图所示的门极钳位电路。

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